介电常数介质损耗测试仪特点： ◎ 本公司创新的自动Q值保持技术，使测Q分辨率至0.1Q，使tanδ分辨率至0.00005 。 ◎ 能对固体绝缘材料在10kHz～120MHz介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。 ◎ 调谐回路残余电感值低至8nH，保证100MHz的(tanδ)和(ε)的误差较小。 ◎ 特制LCD屏菜单式显示多参数：Q值，测试频率，调谐状态等。 ◎ Q值量程自

介电常数介质损耗测试仪主要技术指标： 2.1 tanδ和ε性能： 2.1.1 固体绝缘材料测试频率10kHz～120MHz的tanδ和ε变化的测试。 2.1.2 tanδ和ε测量范围： tanδ：0.1～0.00005，ε：1～50 2.1.3 tanδ和ε测量精度（1MHz）： tanδ：±5%±0.00005，ε：±2% 工作频率范围：50kHz～50MHz 四位数显，压控振荡器 Q值

介电常数介质损耗测试仪电感器： 按测试频率要求，需要配置不同量的电感器。 例如：在1MHz测试频率时，要配250µH电感器，在50MHz测试频率时，要配0.1µH电感器等。 高频介质样品（选购件）： 在现行高频介质材料检定系统中，检定部门为高频介质损耗测量仪提供的测量标准是高频标准介质样品。 该样品由人工蓝宝石，石英玻璃，氧化铝陶瓷，聚四氟乙烯，环氧板等材料做成Φ50mm，厚1～2mm测试样品。

仪器满足标准GB/T 1409-2006 测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法。适用于测定热塑性、热固性塑料在1MHz条件下的电容率和介质损耗因数。 2.高频电容率和介质损耗因数测试系统构成 2.1.概述：高频电容率和介质损耗因数测试系统由S916测试装置（夹具）、GDAT型高频Q表、数据采集和tanδ自动测量控件（装入GDAT)、及LKI-1型电

产品保修售后服务承诺： 一、安装调试：协助试验机的安装，负责试验机的运输、调试。 二、验收标准：试验机按订货技术附件进行验收。终验收在买方进行，对用户提供的试样进行试验，并提供测试报告。 三、培训：安装调试同时，在仪器操作现场一次性免费培训操作人员2-3名，该操作人员应是由需方选派的长期稳定的员工，培训后能够对设备基本原理、软件使用、操作、维护事项理解和应用，使人员能够独立操作设备对样品

五.注意事项： 1．测试装置使用结束后，请及时关闭液晶显示屏的电源，可延长电池的寿命。如果电池发出电压低报警，应及时更换电池保证测量的精度。电池更换位置位于液晶显示屏的被面十字盖冒下。用工具将十字盖冒逆时针旋转约45°，既可取下十字盖冒，更换电池。 2．本测试装置是由精密机械构件组成的测微设备，所以在使用和保存时要避免振动和碰撞，要求在不含腐蚀气体和干燥的环境中使用和保存，用户不能自行拆装，否

使用方法 高频Q表是多用途的阻抗测量仪器，为了提高测量精度，除了使Q表测试回路本身残余参量尽可能地小，使耦合回路的频响尽可能地好之外，还要掌握正确的测试方法和残余参数修正方法。 1．测试注意事项 a．本仪器应水平安放； b．如果你需要较精确地测量，请接通电源后，预热30分钟； c．调节主调电容或主调电容数码开关时，当接近谐振点时请缓调； d．被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短，足够粗，并应接

、维修 1．新购仪器的检查 新购的仪器能先用LKI-1电感组，将各个电感在各个不同频率测试Q值，把测试的情况，例使用的电感号、测试频率Q读数、电容读数等多次测得数及测试环境条件逐一详细记录，并把记录保存起来，以供以后维修时作参考。 LKI-1电感组是测试时作辅助电感用的，不能把这些电感当作高精度的标准电感看待。随着测试环境条件不同，测得电感器Q值和分布电容可能略有不同。 2．使用和保养 高

介电常数介质损耗测试仪装置： 2.3.1 平板电容器极片尺寸：:Φ38mm和Φ50mm二种. 2.3.2 平板电容器间距可调范围和分辨率：0～8mm， ±0.01mm 2.3.3 圆筒电容器线性： 0.33 pF /mm±0.05 pF, 2.3.4 圆筒电容器可调范围：±12.5mm（±4.2pF） 2.3.5 装置插头间距：25mm±0.1mm 2.3.6 装置损耗角正切值:≤2.5×10-