高频介电常数介质损耗因数正切值测试仪

介电常数测试仪介质损耗因数正切值测试仪 2.3.1 平板电容器极片尺寸：:Φ38mm和Φ50mm二种. 2.3.2 平板电容器间距可调范围和分辨率：0～8mm， ±0.01mm 2.3.3 圆筒电容器线性： 0.33 pF /mm±0.05 pF, 2.3.4 圆筒电容器可调范围：±12.5mm（±4.2pF） 2.3.5 装置插头间距：25mm±0.1mm

绝缘材料介电常数介质损耗测试仪： ◎ 本公司创新的自动Q值保持技术，使测Q分辨率至0.1Q，使tanδ分辨率至0.00005 。 ◎ 能对固体绝缘材料在10kHz～120MHz介质损耗角（tanδ）和介电常数（ε）变化的测试。 ◎ 调谐回路残余电感值低至8nH，保证100MHz的（tanδ）和（ε）的误差较小。 ◎ 特制LCD屏菜单式显示多参数：Q值，测试频率，调谐状态等。

塑料介电常数测试仪介质损耗测试仪 1．Q值测量 a．Q值测量范围：2～1023； b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档

介电常数介质损耗测试仪装置： 2.3.1 平板电容器极片尺寸：:Φ38mm和Φ50mm二种. 2.3.2 平板电容器间距可调范围和分辨率：0～8mm， ±0.01mm 2.3.3 圆筒电容器线性： 0.33 pF /mm±0.05 pF, 2.3.4 圆筒电容器可调范围：±12.5mm（±4.2pF） 2.3.5 装置插头间距：25mm±0.1mm 2.3.6 装置损耗角正切值:≤2.5×1

介电常数和介质损耗一体测试仪装置： 平板电容器极片尺寸：:Φ38mm和Φ50mm二种.平板电容器间距可调范围和分辨率：0～8mm， ±0.01mm 圆筒电容器线性： 0.33 pF /mm±0.05 pF, 圆筒电容器可调范围：±12.5mm（±4.2pF） 装置插头间距：25mm±0.1mm 装置损耗角正切值:≤2.5×10

高频介电常数介质损耗因数测试仪能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。该仪器广泛地用于科研机关、学校、工厂等单位。

1．Q值测量 a．Q值测量范围：2～1023； b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档； c．标称误差 频率范围25kHz～10MHz100kHz～10MHz 固有误差≤5％±满度值的2%≤5％±满度值的2% 工作误差≤7％±满度值的2%≤7％±满度值的2% 频率范围10MHz～60MHz10MHz～160MHz 固

陶瓷塑料介电常数介质损耗测试仪实验原理: 介电体（又称电介质）Z基本的物理性质是它的介电性，对介电性的研究不但在电介质材料的应用上具有重要意义，而且也是了解电介质的分子结构和激化机理的重要分析手段之一，探索高介电常数的电介质材料，对电子工业元器件的小型化有着重要的意义。介电常数（又称电容率）是反映材料特性的重要参量，电介质极化能力越强，其介电常数就越大。